台阶仪

更新时间：2024-11-28

产品型号：

厂商性质：经销商

生产地址：

产品报价：

产品特点：台阶仪能够在同一测试平台上运行多种测试，产品的组合可根据不同的技术应用要求而改变。针对样品的同一区域可进行不同模式的实验检测，模式切换可实现全自动化。多项技术的整合能够使不同技术在同一检测仪上充分发挥各自的优势。该项整合技术不仅有利于数据的综合分析，也可以减少维护成本，从而提高效率。

产品详情

台阶仪

台阶仪集合了共焦光学形貌仪，WLI白光干涉形貌仪，原子力显微镜，接触和非接触式双模式表面形貌检测。

项目简述	参数说明
1.共焦	可快速垂直扫描的旋转共焦技术。使用高数值孔径 (0.95) 以及高倍数的 (150倍) 全视野3D镜头，用以表征坡度分析 (超大斜率<干涉测量>: 72° vs 44°) 。具有光学形貌上超高的横向分辨率，附有5百万自动分辨率的CCD相机，空间下样可调至0.05um，是表面特征以及形貌的测量的理想配置。在测量表面粗糙度/表面反射率上无限制应用于透明层/薄膜。兼容亮视野&暗视野; 光学DIC。长距离远摄镜头是用以测量高纵横比以及坡度特性的理想之选。高稳定性。
2.干涉仪（WLI）	Z向高分辨率兼具相移（PSI）以及垂直扫描（VSI）模式 Z向分辨率可独立放大四色CCD 相机，用户可自选的LED光源 (白光、绿光、蓝光和红光) 高达五百万像素的可自动分辨的CCD 相机快速处理器自动对焦
3.原子力显微镜	探针扫描可用于大型模板 X、Y、Z三向可达原子级分辨率大压电探针扫描XY: 达到 110x110um
4.变焦	粗糙表面分析快速分析一台设备上集成非接触式白光干涉形貌仪高精度原子力显微镜

　如果你对台阶仪感兴趣，想了解更详细的产品信息，填写下表直接与厂家联系：

上一篇：三维形貌仪

下一篇：白光干涉仪

台阶仪

留言框

产品：

您的单位：

您的姓名：

联系电话：

常用邮箱：

省份：

详细地址：

补充说明：

验证码：